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X線回折【エックスせんかいせつ】

ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典

X線回折
エックスせんかいせつ
X-ray diffraction
波長1Å程度のX線は,その波長結晶格子の面間隔と同程度なので,ブラッグの条件によって回折される。その回折像から結晶構造,原子配列を決定することをX線回折という。 1912年に M.v.ラウエがX線の回折像を発見して以来,この分野はめざましい発展をとげた。結晶構造を調べるのにデバイ=シェラー法があるが,ほかに単色X線を単結晶に入射させ,ブラッグの条件を満足させるように結晶を回転させる回転結晶法がある。さらにX線フィルムの回転,並進操作を加えたワイセンベルグ法などがある。回折装置と電子計算機を直結させて,複雑な鉱物や有機結晶の結晶構造,ヘモグロビン,蛋白質などの単結晶の分子構造も解明されている。また格子欠陥強誘電体などの構造と物性との関係やコロイドなどの大きさの測定,液晶や液体の構造の研究もなされている。

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デジタル大辞泉

エックスせん‐かいせつ〔‐クワイセツ〕【X線回折】
X線が示す回折現象。また、これを利用して、物体の原子配列や非晶質・液体の構造などを調べること。

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法則の辞典

X線回折【X-ray diffraction】
X線は波長の短い電磁波であるために,波長と同程度の繰り返し単位をもつもの,すなわち結晶によって回折現象を示す.これによって結晶構造,さらに分子構造の決定が可能となった.1912年にラウエ(M. von Laue)が指摘し,フリードリヒクニッピングが実験的に証明した.

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栄養・生化学辞典

X線回折
 X線散乱ともいう.X線を結晶に照射して,その結晶に特有の回折パターンを調べ,結晶の構造解析を行う方法.

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世界大百科事典 第2版

エックスせんかいせつ【X線回折 X‐ray diffraction】
物質にX線が入射したとき,入射X線の方向とは違ったいくつかの特定の方向に強いX線が進む現象。一般に,波が障害物に衝突するとき,粒子の衝突とは違って障害物の陰の部分にも波が回り込む。これが波の回折である。X線は電波や光と同じく電磁気的な波であり,物質に衝突するときやはり回折が生ずる。原子がある規則に従って配列した集合体,すなわち物質にX線を入射すると,それぞれの原子からの散乱波が互いに干渉しあい,特定の方向にだけ強い回折波(回折X線)が進行する。

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日本大百科全書(ニッポニカ)

X線回折
えっくすせんかいせつ
X線(レントゲン線)は1895年ドイツのレントゲンによって発見されたが、その正体は10年以上も不明であった。しかし、物質を透過して写真にその影を写す性質は発見当初から骨折などの治療に利用されていた。X線は波長の短い電磁波(1オングストローム=0.1ナノメートル程度)であろうという推定はされていたが、これを実証したのはドイツのラウエである。彼はX線が波であれば回折するであろうと考えた。また、結晶は原子が数オングストローム程度の間隔で規則的に配列しているとのモデルが提案されていたので、1912年、結晶を回折格子として利用し、X線による回折像の撮影に成功した。以後、X線回折は物質構造、とくに結晶構造解明の重要な研究手段になった。同様の結晶による回折現象は電子線や中性子線によっても観測される。X線回折を観察するには次のような方法がある。
(1)ラウエ法 単結晶に連続波長分布のX線(連続X線)を当て、結晶の前あるいは後ろに置かれた写真フィルム上に多くのラウエ斑点(はんてん)からなるラウエ写真を撮影する。
(2)回転結晶法 ある結晶軸の周りに小結晶を回転させながら、これに単色X線を当て、写真フィルムの上に一挙に多くのブラッグ反射を記録する方法。
(3)X線回折計(X線ディフラクトメーター)による方法 X線回折計は、それぞれの格子面からブラッグ反射がおこるように結晶の方位を調整し、かつそのブラッグ反射が測定できるような方位に計数管をもっていって反射強度を測定する、という一連の操作を自動的に遂行できるように複数の回転軸をもつ測定装置。結晶構造の精密な研究には、多くの場合これを利用する。通常は単色X線を単結晶に当て測定する。
(4)デバイ‐シェラー法(粉末結晶法という) 粉末試料や多結晶質の物質に適用する方法で、単色X線を用いて試料からのデバイ‐シェラー環に相当する回折X線を写真法あるいはX線回折計によって記録する。[石田興太郎]
『加藤誠軌著『X線回折分析』(1990・内田老鶴圃) ▽加藤範夫著『X線回折と構造評価』(1995・朝倉書店) ▽早稲田嘉夫・松原英一郎著、堂山昌男他監修『X線構造解析――原子の配列を決める』(1998・内田老鶴圃) ▽B. D. Cullity著、松村源太郎訳『X線回折要論』新版(1999・アグネ承風社)』

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精選版 日本国語大辞典

エックスせん‐かいせつ ‥クヮイセツ【X線回折】
〘名〙 固体にX線を照射し、その散乱の反射条件、散乱強度から、試料結晶の原子配列や結合状態を調べること。→回折

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